Titre
X-Ray Diffraction for Materials Research - From Fundamentals to Applications
Auteur
Lee, Myeongkyu (Point Pleasant, New Jersey, USA)
Langue
anglais
ISBN
9781771882989
Éditeur
Apple Academic Press Inc.
Prix
€ 145,10(Excl. toute livraison)
Détails
2016 302pp Gebonden
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Annotatie
X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique for characterizing crystalline materials commonly employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three pa
Flaptekst
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how
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